SGM-2型邁克爾遜和法布里-珀兩用干涉儀

用途

SGM-2型邁克爾遜和法布里-珀LUO兩用干涉儀，通過簡單的操作即可便捷地實現兩種干涉儀功能的轉換。利用邁克耳孫干涉儀可觀察各種干涉現象（等傾干涉、等厚干涉、白光干涉）、波長的精確比較和零程差的確定、透明介質薄片或空氣折射率的測定；而法布里-珀luo干涉儀可用來觀察多光束干涉現象、觀測光譜線精細結構（例如測量鈉黃雙線波長差）。該儀器適合高等學校物理光學實驗教學使用。

維護與保養

實驗室要求

儀器應安放在遠離震源的干燥、清潔遮光的實驗室使用，實驗臺要平穩、堅固。儀器在搬動過程中，要防止碰撞和震動。

光學零件

平常無須擦拭儀器的光學零件。必須擦拭時，先用清潔的軟毛刷撣去灰塵，再用脫脂棉球滴上乙醇和乙mi混合液輕拭，禁止用手觸及光學零件的透光表面。

傳動機構

轉動測微螺旋和調節螺絲時動作要輕，不要急促或斜向用力。不要拆卸傳動機構，以免影響儀器正常使用。

工作環境

在濕度大的季節，光學實驗室宜安裝去濕機。為防止光學零件發霉、生霧的發生和蔓延，應加強照料、經常察看，發現異常及時處理。